X荧光光谱仪EDX3000D的特点：
1. 半导体硅片电制冷系统，摒弃液氮制冷
2. 自动滤光片选择
3. 多种准直器自动自由切换
4. 三重安全保护模式
5. 相互独立的基体效应校正模型
6. 多变量非线性回归程序
7. 样品腔自动开关
8. 软件定位样品平台，最小位移 0.01 mm
9. 自动切换准直器和滤光片，分别针对不同样品
10. 特别开发测量软件，操作界面十分友好
11. 内置高清晰摄像头，方便用户随时检测样品
X荧光光谱仪EDX3000D的技术参数：
1. 元素分析范围从硫(S)到铀(U)
2. 元素含量分析范围为1 PPm到99.99%
3. RoHS指令规定的有害元素（限Cd/Pb/Cr/Hg/Br）检测限达1PPM；
4. 测量时间：60-200秒
5. 能量分辨率为155±5电子伏特
6. 管压：5~50KV
7. 管流：50~1000μA
8. 温度适应范围为15℃至30℃
9. 电源：交流220V±5V（建议配置交流净化稳压电源）
10. 三维自由度超大的样品腔设计，样品腔尺寸：Φ450 x 90 mm
11. 一次可同时分析24个元素
12. 重量：110 kg
X荧光光谱仪EDX3000D的配置
1. 移动样品平台
2. 加强金属元素感度分析器
3. 放大电路
4. 信噪比增强器（SNE）
5. 计算机、喷墨打印机
